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Proceedings of the 16. International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991 Part 1. - ZŘrich : Trans Tech Publications, 1992. - 538 p. ; 25 cm
ISBN 0878496289
Fa parte di: Proceedings of the 16. International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991 / edited by Gordon Davies, Gary G. DeLeo, and Michael Stavola
Altri autori: International Conference on Defects in Semiconductors [16. ; Bethlehem, Pennsylvania ; 1991]

  Biblioteca Codice Collocazione Inventario Prestito DisponibilitÓ    
  Ateneo. Scienze - Fisica PAV0U7 537.62 DAVPRO 1-1992 BFV1147 Ammesso Materiale in biblioteca    

Tipo: 102 - Monografia moderna | Lingua: ENG | Paese: CH | Data di pubblicazione o produzione: 1992 | Gestione database: EC-PEC | Codice: PAV0113330 | MFN: 1354297

 

 

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OPAC - Catalogo Unico Pavese - Ultimo aggiornamento: 18-10-2019 06:21:18 - Schede in OPAC:  2094257
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