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Lupano, Patrizia
Caratterizzazione ottica di impurezze in silicio epitassiale / Patrizia Lupano ; relatore: A. Borghesi ; correlatore: B. Pivac. - Pavia : UniversitÓ degli studi, 1988. - 121 p. ; 30 cm

Anno accademico: 1988/1989. - Ateneo: UniversitÓ degli Studi di Pavia. - FacoltÓ: Scienze matematiche fisiche e naturali. - Corso di laurea: Fisica. - Consultazione autorizzata
Genere: M - Tesi e dissertazioni
Altri autori: Pivac, B. relatore

  Biblioteca Codice Collocazione Inventario Prestito DisponibilitÓ    
  Ateneo. Scienze - Fisica PAV0U7 TES 477 TES477 Ammesso Materiale in biblioteca    

Tipo: 200 - Tesi | Lingua: ITA | Paese: IT | Data di pubblicazione o produzione: 1988 | Gestione database: EC-PEC | Codice: BIF0037051 | MFN: 0345213

 

 

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OPAC - Catalogo Unico Pavese - Ultimo aggiornamento: 11-10-2019 06:20:49 - Schede in OPAC:  2093476
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