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OPAC - Catalogo Unico Pavese
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Feldman, Leonard C. - Mayer, James W. [1930- ]
Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman and James W. Mayer. - New York : North-Holland, c1986. - XVIII, 352 p. ; 24 cm.

ISBN 0444009892

  Biblioteca Codice Collocazione Inventario Prestito DisponibilitÓ    
  Ateneo. Scienze - Chimica PAV0U7 615.4 FELFUN 1986 BFF3701 Ammesso Materiale in biblioteca    

Tipo: 102 - Monografia moderna | Lingua: ENG | Paese: US | Data di pubblicazione o produzione: 1986 | Gestione database: EC-PEC | Codice: MIL0049442 | MFN: 0178779

 

 

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OPAC - Catalogo Unico Pavese - Ultimo aggiornamento: 11-10-2019 06:20:49 - Schede in OPAC:  2093476
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